- бизнес-книги
- детские книги
- дом, дача
- зарубежная литература
-
знания и навыки
- изучение языков
- компьютерная литература
- научно-популярная литература
- словари, справочники
-
учебная и научная литература
- безопасность жизнедеятельности
- военное дело
- гуманитарные и общественные науки
- естественные науки
- задачники
- монографии
- научные труды
- практикумы
- прочая образовательная литература
- сельское и лесное хозяйство
-
технические науки
- высокие технологии
- горное дело
- информатика и вычислительная техника
- конструкции
- легкая промышленность
- материаловедение
- машиностроение
- нормативная документация
- общетехнические дисциплины
- основы производства
- пищевая промышленность
- приборостроение
- проектирование
- промышленность
- радиоэлектроника
- строительство
- техническая литература
- технологии металлов
- транспорт
- химическая технология
- эксплуатация промышленного оборудования
- энергетика
- учебники и пособия для вузов
- учебники и пособия для ссузов
- учебно-методические пособия
- история
- комиксы и манга
- легкое чтение
- психология, мотивация
- публицистика и периодические издания
- родителям
- серьезное чтение
- спорт, здоровье, красота
- хобби, досуг
Yang Leng — Materials Characterization
Купить и скачать за 15771.31 ₽
Понравилась книга? Поделись в соцсетях:
Автор: Yang Leng
Издатель: John Wiley & Sons Limited
ISBN: 9780470822999
Описание: This book covers state-of-the-art techniques commonly used in modern materials characterization. Two important aspects of characterization, materials structures and chemical analysis, are included. Widely used techniques, such as metallography (light microscopy), X-ray diffraction, transmission and scanning electron microscopy, are described. In addition, the book introduces advanced techniques, including scanning probe microscopy. The second half of the book accordingly presents techniques such as X-ray energy dispersive spectroscopy (commonly equipped in the scanning electron microscope), fluorescence X-ray spectroscopy, and popular surface analysis techniques (XPS and SIMS). Finally, vibrational spectroscopy (FTIR and Raman) and thermal analysis are also covered.