- бизнес-книги
- детские книги
- дом, дача
- зарубежная литература
-
знания и навыки
- изучение языков
- компьютерная литература
- научно-популярная литература
- словари, справочники
-
учебная и научная литература
- безопасность жизнедеятельности
- военное дело
- гуманитарные и общественные науки
- естественные науки
- задачники
- монографии
- научные труды
- практикумы
- прочая образовательная литература
- сельское и лесное хозяйство
-
технические науки
- высокие технологии
- горное дело
- информатика и вычислительная техника
- конструкции
- легкая промышленность
- материаловедение
- машиностроение
- нормативная документация
- общетехнические дисциплины
- основы производства
- пищевая промышленность
- приборостроение
- проектирование
- промышленность
- радиоэлектроника
- строительство
- техническая литература
- технологии металлов
- транспорт
- химическая технология
- эксплуатация промышленного оборудования
- энергетика
- учебники и пособия для вузов
- учебники и пособия для ссузов
- учебно-методические пособия
- история
- комиксы и манга
- легкое чтение
- психология, мотивация
- публицистика и периодические издания
- родителям
- серьезное чтение
- спорт, здоровье, красота
- хобби, досуг
Professor Stallinga Peter — Electrical Characterization of Organic Electronic Materials and Devices
Купить и скачать за 20409.92 ₽
Понравилась книга? Поделись в соцсетях:
Автор: Professor Stallinga Peter
Издатель: John Wiley & Sons Limited
ISBN: 9780470750179
Описание: Think like an electron Organic electronic materials have many applications and potential in low-cost electronics such as electronic barcodes and in light emitting devices, due to their easily tailored properties. While the chemical aspects and characterization have been widely studied, characterization of the electrical properties has been neglected, and classic textbook modeling has been applied. This is most striking in the analysis of thin-film transistors (TFTs) using thick “bulk” transistor (MOS-FET) descriptions. At first glance the TFTs appear to behave as regular MOS-FETs. However, upon closer examination it is clear that TFTs are unique and merit their own model. Understanding and interpreting measurements of organic devices, which are often seen as black-box measurements, is critical to developing better devices and this, therefore, has to be done with care. Electrical Characterization of Organic Electronic Materials and Devices Gives new insights into the electronic properties and measurement techniques for low-mobility electronic devices Characterizes the thin-film transistor using its own model Links the phenomena seen in different device structures and different measurement techniques Presents clearly both how to perform electrical measurements of organic and low-mobility materials and how to extract important information from these measurements Provides a much-needed theoretical foundation for organic electronics