- бизнес-книги
- детские книги
- дом, дача
- зарубежная литература
-
знания и навыки
- изучение языков
- компьютерная литература
- научно-популярная литература
- словари, справочники
-
учебная и научная литература
- безопасность жизнедеятельности
- военное дело
- гуманитарные и общественные науки
- естественные науки
- задачники
- монографии
- научные труды
- практикумы
- прочая образовательная литература
- сельское и лесное хозяйство
-
технические науки
- высокие технологии
- горное дело
- информатика и вычислительная техника
- конструкции
- легкая промышленность
- материаловедение
- машиностроение
- нормативная документация
- общетехнические дисциплины
- основы производства
- пищевая промышленность
- приборостроение
- проектирование
- промышленность
- радиоэлектроника
- строительство
- техническая литература
- технологии металлов
- транспорт
- химическая технология
- эксплуатация промышленного оборудования
- энергетика
- учебники и пособия для вузов
- учебники и пособия для ссузов
- учебно-методические пособия
- история
- комиксы и манга
- легкое чтение
- психология, мотивация
- публицистика и периодические издания
- родителям
- серьезное чтение
- спорт, здоровье, красота
- хобби, досуг
Myung-Hwan Whangbo — Surface Analysis with STM and AFM
Купить и скачать за 22381.34 ₽
Понравилась книга? Поделись в соцсетях:
Автор: Myung-Hwan Whangbo
Издатель: John Wiley & Sons Limited
ISBN: 9783527615100
Описание: Scanning tunneling microscopy (STM) and atomic force microscopy (AFM) are powerful tools for surface examination. In the past, many STM and AFM studies led to erroneous conclusions due to lack of proper theoretical considerations and of an understanding of how image patterns are affected by measurement conditions. For this book, two world experts, one on theoretical analysis and the other on experimental characterization, have joined forces to bring together essential components of STM and AFM studies: The practical aspects of STM, the image simulation by surface electron density plot calculations, and the qualitative evaluation of tip-force induced surface corrugations. Practical examples are taken from: * inorganic layered materials * organic conductors * organic adsorbates at liquid-solid interfaces * self-assembled amphiphiles * polymers This book will be an invaluable reference work for researchers active in STM and AMF as well as for newcomers to the field.