- бизнес-книги
- детские книги
- дом, дача
- зарубежная литература
-
знания и навыки
- изучение языков
- компьютерная литература
- научно-популярная литература
- словари, справочники
-
учебная и научная литература
- безопасность жизнедеятельности
- военное дело
- гуманитарные и общественные науки
- естественные науки
- задачники
- монографии
- научные труды
- практикумы
- прочая образовательная литература
- сельское и лесное хозяйство
-
технические науки
- высокие технологии
- горное дело
- информатика и вычислительная техника
- конструкции
- легкая промышленность
- материаловедение
- машиностроение
- нормативная документация
- общетехнические дисциплины
- основы производства
- пищевая промышленность
- приборостроение
- проектирование
- промышленность
- радиоэлектроника
- строительство
- техническая литература
- технологии металлов
- транспорт
- химическая технология
- эксплуатация промышленного оборудования
- энергетика
- учебники и пособия для вузов
- учебники и пособия для ссузов
- учебно-методические пособия
- история
- комиксы и манга
- легкое чтение
- психология, мотивация
- публицистика и периодические издания
- родителям
- серьезное чтение
- спорт, здоровье, красота
- хобби, досуг
Группа авторов — System-level Modeling of MEMS
Купить и скачать за 19114.34 ₽
Понравилась книга? Поделись в соцсетях:
Автор: Группа авторов
Издатель: John Wiley & Sons Limited
ISBN: 9783527647125
Описание: System-level modeling of MEMS – microelectromechanical systems – comprises integrated approaches to simulate, understand, and optimize the performance of sensors, actuators, and microsystems, taking into account the intricacies of the interplay between mechanical and electrical properties, circuitry, packaging, and design considerations. Thereby, system-level modeling overcomes the limitations inherent to methods that focus only on one of these aspects and do not incorporate their mutual dependencies. The book addresses the two most important approaches of system-level modeling, namely physics-based modeling with lumped elements and mathematical modeling employing model order reduction methods, with an emphasis on combining single device models to entire systems. At a clearly understandable and sufficiently detailed level the readers are made familiar with the physical and mathematical underpinnings of MEMS modeling. This enables them to choose the adequate methods for the respective application needs. This work is an invaluable resource for all materials scientists, electrical engineers, scientists working in the semiconductor and/or sensor industry, physicists, and physical chemists.