• Электронные книги
  • Авторы
  • Программы
Найти книгу:

электронные книги

  • бизнес-книги
  • детские книги
  • дом, дача
  • зарубежная литература
  • знания и навыки
    • изучение языков
    • компьютерная литература
    • научно-популярная литература
    • словари, справочники
    • учебная и научная литература
      • безопасность жизнедеятельности
      • военное дело
      • гуманитарные и общественные науки
      • естественные науки
      • задачники
      • монографии
      • научные труды
      • практикумы
      • прочая образовательная литература
      • сельское и лесное хозяйство
      • технические науки
      • учебники и пособия для вузов
      • учебники и пособия для ссузов
      • учебно-методические пособия
  • история
  • комиксы и манга
  • легкое чтение
  • психология, мотивация
  • публицистика и периодические издания
  • родителям
  • серьезное чтение
  • спорт, здоровье, красота
  • хобби, досуг

В. Ю. Васильев — Методы и возможности in-line контроля тонкопленочных материалов в производстве субмикронных интегральных микросхем

Купить и скачать за 176 ₽





Понравилась книга? Поделись в соцсетях:
Facebook Twitter Вконтакте OK

Автор: В. Ю. Васильев

Издатель: Новосибирский государственный технический университет

Год: 2023

ISBN: 978-5-7782-4926-4

Описание: Пособие составлено на базе 40-летнего личного опыта работы автора на отечественных и зарубежных предприятиях микроэлектронной отрасли. Рассмотрена совокупность вопросов организации и использования в серийном производстве субмикронных интегральных микросхем (ИМС) методов непосредственного производственного (in-line) контроля тонкопленочных материалов основы современных ИМС. Приведены примеры приборов контроля и возможностей их применения для характеризации процессов получения и свойств тонких пленок. Рассмотрены решения технологических задач с помощью in-line методов на примере важнейшего узла ИМС – диэлектрической планаризируемой изоляции между транзисторным уровнем (FEOL) и первым уровнем металлизации (BEOL) микросхем. Проанализирован подход к квалификации технологических процессов/оборудования для создания тонких пленок в производстве, изложены примеры проведения исследований технологической направленности. Показаны необходимость и возможности использования вместе с in-line методами также методов контроля at-line (в лабораториях вне производства) и off-line (в специализированных аналитических организациях). В пособии использованы и пояснены многочисленные англоязычные термины, принятые в технологиях и производстве интегральных микросхем. Материал пособия может быть рекомендован для обучения бакалавров и магистрантов по направлениям 11.03.04 и 11.04.04 («Электроника и наноэлектроника»), 28.03.01 и 28.04.01 («Нанотехнологии и микросистемная техника») в рамках семинаров по специальностям и по дисциплинам, связанным с преподаванием физико-химических основ технологических процессов изделий микроэлектроники, микросистемной техники, наноэлектроники. Рекомендуется для магистрантов и аспирантов по специальности 11.06.01 «Электроника, радиотехника и системы связи», а также для технологов производства ИМС, исследователей в области нанотехнологии.

Купить и скачать за 176 ₽


© epub.ru      О сайте