И. О. Атовмян — Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Понравилась книга? Поделись в соцсетях:
Автор: И. О. Атовмян
Издатель: Синергия
Год: 2014
Описание: В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.