- бизнес-книги
- детские книги
- дом, дача
-
зарубежная литература
- зарубежная деловая литература
- зарубежная драматургия
- зарубежная классика
- зарубежная компьютерная литература
- зарубежная литература о культуре и искусстве
- зарубежная образовательная литература
- зарубежная поэзия
- зарубежная прикладная литература
- зарубежная психология
- зарубежная публицистика
- зарубежная религиозная и эзотерическая литература
- зарубежная религиозная литература
- зарубежная справочная литература
- зарубежная старинная литература
- зарубежная фантастика
- зарубежная эзотерическая литература
- зарубежное фэнтези
- зарубежные боевики
- зарубежные детективы
- зарубежные детские книги
- зарубежные любовные романы
- зарубежные приключения
- зарубежный юмор
- современная зарубежная литература
- знания и навыки
- история
- комиксы и манга
- легкое чтение
- психология, мотивация
- публицистика и периодические издания
- родителям
- серьезное чтение
- спорт, здоровье, красота
- хобби, досуг
Greg Haugstad — Atomic Force Microscopy. Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Купить и скачать за 17974.65 ₽
Понравилась книга? Поделись в соцсетях:
Автор: Greg Haugstad
Издатель: John Wiley & Sons Limited
ISBN: 9781118360699
Описание: This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions. “Supplementary material for this book can be found by entering ISBN 9780470638828 on booksupport.wiley.com”